圣宇硅光智测科技有限公司深耕于集成光子技术的前沿，通过研发和提供先进的自动化晶圆级测试系统，助力这一领域的创新与发展。我们致力于为客户提供高精度、高效率的测试解决方案，满足从研发到生产各个阶段的需求。凭借卓越的技术能力和丰富的行业经验，我们的产品将为客户带来无与伦比的性能和可靠性，推动集成光子技术走向更广泛的应用。
作为整体测试系统解决方案的专家，圣宇硅光智测科技在光子集成电路测试、工业自动化、高精度运动控制、软件开发和晶圆级测试系统集成与定制方面拥有十几年的专业知识。圣宇硅光智测科技始终专注于提供量身定制的一站式解决方案，以应对日益复杂的PIC测试需求，积累了丰富的系统定制经验和能力。利用我们最先进的晶圆级端面耦合自动化探针台，彻底释放您的硅光子（PIC）测试潜力。我们的解决方案旨在满足最严格的需求，提供无与伦比的精度、稳定性和高速度。以下是我们如何帮助您提升PIC测试能力：
高精度和高速度需求
高精度：硅光子晶圆级测试需要在晶圆上进行耦合对准，特别是边缘耦合技术，需要将探针阵列插入芯片间的微小沟槽进行耦合。因此对系统的精度要求极高，对准精度需要达到亚微米甚至纳米级别。
高速度：随着硅光子器件的规模和复杂性增加，需要全自动化的快速测试方案以满足大规模生产需求。
复杂的测试要求
光学对准：光子器件需要精确的光学对准，微米级的错位都会导致测试结果不准确，这对传统电子探针台的要求成倍提高。
多参数测试：硅光子器件通常需要测试多种参数，如插损（IL）、偏振相关损耗（PDL）、电流电压曲线（I-V Curve）、带宽和眼图等，这增加了测试的复杂性。
多样化的器件结构
多样性：硅光子器件种类繁多，包括调制器、探测器、波导和光分路器等，每种器件的测试方法和标准不同。
集成度：随着器件集成度的提高，测试需要覆盖更多的功能和更复杂的电光组件。
数据处理和分析
大量数据：硅光子器件测试会产生大量数据，需要高效的数据处理和分析能力，以便快速识别和解决问题。
数据准确性：确保数据的准确性和一致性，以保证测试结果的可靠性。
自动化水平
自动化：随着测试需求的增加，自动化测试系统的开发和应用变得至关重要。高效的自动化系统可以显著减少测试时间和人工成本，同时提高测试的准确性和一致性。
灵活性：测试系统需要具备足够的灵活性，以适应不同类型的硅光子器件和测试需求。
成本控制
测试成本：硅光子晶圆测试设备和过程成本较高，需要寻找成本效益更高的解决方案。
时间成本：测试过程耗时较长，需要优化测试流程以缩短测试时间。
环境干扰
环境稳定性：测试环境需要保持高度稳定，以避免外界干扰对测试结果的影响，如振动和温度波动等。
软硬件集成测试经验
解决这些挑战需要先进的测试技术和设备，高度专业化的自动控制软件，以及丰富的测试系统集成经验。Sunyu Photonics致力于帮助客户应对这些挑战，通过提供高精度、高速度和自动化的测试解决方案，提高硅光子器件的测试效率和质量。
高精度四轴晶圆位移台：在X、Y、Z和RZ（旋转）方向上进行精确定位移动。此设备可配置12英寸和8英寸晶圆，并向下兼容巴条、多芯片和单芯片，适用于各种晶圆测试需求。其高精度的定位功能确保在测试过程中每一个步骤的准确性和可靠性，从而提高测试结果的一致性和精度。
光纤探头六轴台：在XYZ、RX、RY、RZ方向上实现真正的独立六轴控制，从而达到三维自由空间光耦合。这个系统允许在多个轴上进行独立控制，使得光纤对准和耦合过程更加精确和高效。无论是复杂的三维光路调整还是多维度的光学测试，光纤探头六轴台都能提供稳定和高效的解决方案。
电（含射频）探针或探针卡位移台：提供X、Y、Z和旋转调整功能，支持自动和手动两种操作模式。此系统能够灵活适应各种电气和射频测试需求，不仅提高了测试的效率和精度，还能在不同的测试环境中提供可靠的性能。自动化的操作选项使得测试过程更加便捷和高效，减少了人为干预和误差。
视觉系统：我们的视觉系统包括顶部和侧面的视觉显示和调整台，与Sunyu的软件系统配合，形成强大的视觉智能系统。通过集成的视觉系统，用户可以实时监控和调整测试过程中的每一个细节，确保每次测试都能获得高精度的结果。智能视觉系统还具备自动对焦和图像识别功能，进一步提高了测试的效率和准确性。
我们的探针台配备了行业领先的定位和运动控制技术，确保在测试过程中实现高度精确和重复的结果。无论是高精度的晶圆位移，还是复杂的光纤对准操作，我们的设备都能胜任。视觉系统的集成使得测试过程中的每一个步骤都可以被精确监控和调整，保证测试结果的可靠性。
精确定位和运动控制：Sunyu系统采用最先进的定位和运动控制技术，确保卓越的精度、重复性和快速自动化，实现无与伦比的性能。我们的系统能够在亚微米级别进行精确定位，确保每一个测试步骤都能达到高标准的精度要求。这种高精度的控制技术在复杂的光电测试中尤为重要，能够显著提高测试结果的可靠性和一致性。
模块化设计：Sunyu系统具有可扩展且高度可定制的模块化设计，提供无缝适应性。它们可以在硬件级别轻松重新配置，以适应各种电气、光学和射频探针的组合，满足特定的测试需求。这种模块化设计不仅提高了系统的灵活性，还使得用户能够根据实际需求进行系统升级和调整，确保系统始终保持最佳的工作状态。
全天候自动化操作：Sunyu系统全天候提供强大可靠的自动化操作，遵循严格的工业标准。我们的系统能够进行无人值守的晶圆级测试自动化运行，保持长时间（甚至数天以上）的高精度和重复性。自动化操作不仅提高了测试效率和准确性，还减少了人工操作的时间和成本，使得大规模测试变得更加经济和高效。
Sunyu的探针台和测试解决方案在精度、灵活性和自动化程度上具有显著优势。我们致力于为客户提供最先进的测试技术和服务，帮助他们实现更高效、更可靠的PIC测试。通过持续创新和技术优化，我们的系统不仅满足了当前的测试需求，还为未来的测试挑战做好了充分准备。
高度灵活和可扩展的架构：Navigo可灵活控制整个系统，包括移动台、探针、视觉系统以及各种测试仪器，是实现全自动化晶圆测试的核心。我们的开放式架构无缝集成任何第三方设备，轻松适应现有和未来的各种复杂多样的测试需求，具有高度的适应性。
低代码平台：由于硅光测试的复杂性，全自动测试需要编写非常复杂的测试序列和计划。Navigo将复杂的测试序列编码任务转变为简单的图形化低代码平台，便于随时调用各种测试仪器和设备，并将常用测试序列存储复用。这使得测试人员能够快速完成测试序列设置，减少人为错误并显著降低调试时间。它也极大地降低了对测试工程师的编码能力要求，使光学工程师快速成为编程能手。
专有算法：Navigo包含用于全自动晶圆测试的专有算法，包括晶圆定位、设备导航、光纤对准、探针校准、探针虚拟轴旋转算法、热补偿等。这些先进算法确保了高精度和高重复性的晶圆测试。
智能视觉系统：Navigo独有的智能视觉系统与整个测试系统联动，具备先进的机器视觉，确保实时精准测量和误差校准。
数据分析：Navigo具备强大的数据分析能力，使测试结果可视化并进行专业的分析整理。测试结果不仅用于判断被测器件是否合格，还通过测试数据分析将结果反馈到芯片制造和工艺环节，进一步提高生产良率。
标准工业接口：Navigo支持标准的工业协议和开放API接口，使用户可以方便地将我们的测试系统接入现有系统，或进行二次开发。
Navigo软件的灵活性和强大的功能使得全自动PIC测试变得更加高效和可靠。通过集成先进的算法和智能视觉系统，Navigo不仅能精确控制测试过程，还能提供详细的数据分析，为生产优化提供有力支持。
Sunyu的晶圆级自动化测试解决方案通过Navigo的控制，集成了高精度探针台和各种光电测试仪器，使我们的系统解决方案在业内处于领先地位。我们的优势包括：
自动化晶圆级PIC测试：Sunyu系统实现了高效可靠的PIC全晶圆自动化测试过程，能够适应12英寸和8英寸的完整晶圆，以及多芯片和单芯片样品，提供灵活性以满足各种测试需求。
高精度耦合：Sunyu系统可以对光子设备进行高效精准的边缘耦合和光栅耦合。特别是晶圆级的边缘耦合具有更高的挑战性，要求更高的运动控制精度和控制软件算法，Sunyu在业内率先实现了全晶圆边缘耦合。
全面的光学、电气和射频参数测试：Sunyu测试系统可配合各种光电测试仪器，全面实现光-光（OO）、光-电（OE）、电-光（EO）和射频（RF）参数测试，包括被动和主动光子器件的测试，涵盖广泛的PIC应用和需求。
成本控制：Sunyu 晶圆级全自动化解决方案，有效突破了PIC测试昂贵和耗时的瓶颈，整体提升了芯片测试效率和准确性，从而为用户的成本控制做出贡献。
Sunyu的探针台和测试解决方案不仅在技术上具有显著优势，还在成本效益和操作便利性上为用户提供了强大的支持。通过创新的技术和完善的服务，我们致力于帮助客户实现更高效、更可靠的PIC测试。请立即联系我们，获取免费的晶圆级测试评估，并亲眼见证我们自动探针台的实际操作。亲身体验我们解决方案的卓越精度、高效和可靠性。不要错过提升PIC测试能力的机会。马上联系我们，迈出实现卓越测试效率和准确性的第一步！