核心技术专利布局，构建知识产权壁垒
圣宇硅光在光电测试及数据处理等核心技术领域构建了完善的知识产权体系
专利号: PF12409493SG
本发明涉及精密光学技术领域，特别涉及一种热膨胀偏移校准方法及装置、可读存储介质和设备。在高精度自动化系统中，温度变化会导致部件膨胀，从而产生定位偏差。该技术通过扫描比对方式实时检测工件的热膨胀量，并计算缩放系数进行位置校准，有效解决温度波动导致的测试误差问题。
专利号: PF12409513SG
本申请涉及光纤技术领域，特别涉及一种光纤运动过程中旋转中心点的确定方法、装置、设备及介质。在高精度光学系统中，光纤尖端位置的精确控制至关重要。该技术通过估算初始位置，选择坐标轴进行旋转操作，结合平移操作迭代优化，能够精准确定光纤在三维空间中旋转时不改变位置的旋转中心点，避免对准偏差和碰撞问题。
专利号: PF12409503SG
本发明涉及半导体技术领域，特别涉及一种角度调整方法及装置、可读存储介质和设备。在相关技术中，晶圆的定位通常依赖人工或机械臂配合预对准装置，但无法满足高精度要求，导致晶圆位置和角度误差较大。该技术通过扫描识别对准标记，计算校正角度，实现晶圆的高精度角度校正，为后续测试提供准确基准。
申请号: PF12501863SG
本发明涉及PIC器件与光纤阵列(FAU)的高精度角度对准技术。通过先进的光学传感系统和角度校准算法，实现一维高通道PIC器件与光纤阵列的高精度耦合角度校准，确保光信号传输的稳定性和准确性。
申请号: PF12501873SG
本发明涉及光纤阵列(FAU)自动化校准技术。通过自动化的二次旋转角度偏差检测与校准方法，有效解决PIC器件与光纤阵列对接过程中的角度偏差问题，提高耦合效率和生产效率。
