圣宇硅光智测科技有限公司是一家专注于PIC整体解决方案研发与制造的初创科技公司，于2019年在新加坡注册成立，团队成员皆为业界新锐，在电子学、光子学、光电学、自动化、AI及系统论领域拥有深厚造诣，通过与客户和合作者的互动，深刻理解了PIC在硅基光电子集成电路产业链中占有极高的成本，为了解决这一行业中的难题。经过数年的研发，优光成功研发出高稳定性、高可靠性的自动化晶圆级端面耦合PIC测试工作站为硅光晶圆从设计到生产提供了快速准确数值和图形输出，从而为客户极大降低了成本和节约了时间。Sunyu Photonics将继续走在技术的前沿，不断推出客户需要的产品。
作为整体测试系统解决方案的专家，Sunyu在光子集成电路测试、工业自动化、高精度运动控制、软件开发和晶圆级测试系统集成与定制方面拥有十几年的专业知识。Sunyu始终专注于提供量身定制的一站式解决方案，以应对日益复杂的PIC测试需求，积累了丰富的系统定制经验和能力。
随着现代社会对更快、更高效的数据传输需求不断增加，光子技术在通信、数据处理和传感等领域变得越来越重要。集成光子（PIC）技术，即在单一芯片上集成多种光子或光电器件的技术，正成为满足这一需求的关键解决方案。它不仅能够显著提高数据传输速度和带宽，还能大幅降低功耗和成本，从而推动了从数据中心到5G网络，再到人工智能和物联网等各个领域的快速发展。
集成光子技术的迅速崛起得益于其独特的优势。首先，它通过在芯片上整合多个功能器件，实现了高度紧凑的设计，从而减少了设备的尺寸和重量。其次，集成光子技术在高速传输和处理大量数据时，展现出优异的性能，能够有效应对现代数据密集型应用的挑战。此外，集成光子器件的制造过程与现有半导体工艺兼容，便于大规模生产和商业化应用。
高精度和高速度需求
高精度：硅光子晶圆级测试需要在晶圆上进行耦合对准，特别是边缘耦合技术，需要将探针阵列插入芯片间的微小沟槽进行耦合。因此对系统的精度要求极高，对准精度需要达到亚微米甚至纳米级别。
高速度：随着硅光子器件的规模和复杂性增加，需要全自动化的快速测试方案以满足大规模生产需求。
复杂的测试要求
光学对准：光子器件需要精确的光学对准，微米级的错位都会导致测试结果不准确，这对传统电子探针台的要求成倍提高。
多参数测试：硅光子器件通常需要测试多种参数，如插损（IL）、偏振相关损耗（PDL）、电流电压曲线（I-V Curve）、带宽和眼图等，这增加了测试的复杂性。
多样化的器件结构
多样性：硅光子器件种类繁多，包括调制器、探测器、波导和光分路器等，每种器件的测试方法和标准不同。
集成度：随着器件集成度的提高，测试需要覆盖更多的功能和更复杂的电光组件。
数据处理和分析
大量数据：硅光子器件测试会产生大量数据，需要高效的数据处理和分析能力，以便快速识别和解决问题。
数据准确性：确保数据的准确性和一致性，以保证测试结果的可靠性。
自动化水平
自动化：随着测试需求的增加，自动化测试系统的开发和应用变得至关重要。高效的自动化系统可以显著减少测试时间和人工成本，同时提高测试的准确性和一致性。
灵活性：测试系统需要具备足够的灵活性，以适应不同类型的硅光子器件和测试需求。
成本控制
测试成本：硅光子晶圆测试设备和过程成本较高，需要寻找成本效益更高的解决方案。
时间成本：测试过程耗时较长，需要优化测试流程以缩短测试时间。
环境干扰
环境稳定性：测试环境需要保持高度稳定，以避免外界干扰对测试结果的影响，如振动和温度波动等。
软硬件集成测试经验
解决这些挑战需要先进的测试技术和设备，高度专业化的自动控制软件，以及丰富的测试系统集成经验。圣宇硅光智测科技有限公司致力于帮助客户应对这些挑战，通过提供高精度、高速度和自动化的测试解决方案，提高硅光子器件的测试效率和质量。